SEMICON to dziś główne miejsce dyskusji o środowiskowym rachunku za mikroelektronikę.
Dlaczego to ważne? Punktem wyjścia każdej analizy cyklu życia (LCA) układu scalonego jest powierzchnia struktury krzemowej tzw. wafer die. Ta jedna liczba skaluje nie tylko emisje CO₂, ale cały środowiskowy bilans produkcji: zużycie wody i energii, użytkowanie terenu, zanieczyszczenie wód i pozostałe kategorie oddziaływania. Kłopot w tym, że wafer die jest zamknięta w obudowie i jej wartości nie podaje żadna karta katalogowa.
Badania Tomasza Roli rozwiązują ten problem bez niszczenia układu. Powstały na podstawie danych z teardownów firmy TechInsights (119 200 układów scalonych z 790 produktów, m.in. Google, Apple, NVIDIA, AMD i HPE). Wynik: stosunek powierzchni struktury do obudowy waha się od 0,12 do 0,99 w zależności od typu obudowy. Jeden uniwersalny przelicznik, stosowany dziś powszechnie w LCA, po prostu nie działa. W jego miejsce przebadano 10 modeli uczenia maszynowego (m.in.: Random Forest, XGBoost, CatBoost, k-najbliższych sąsiadów, sieć neuronową dla danych tabelarycznych (MLP)). Kluczowy wniosek: na podstawie dostępnych danych paramaterycznych jesteśmy w stanie przeprowadzić analizę środowiskową z dokładnością ok 85%-92% w czasie ok 1000x krótszym (kilka godzin zamiast kilku dni) i przy prawie zerowych kosztach.
Jak mówi Tomasz Rola:
Zostałem zaproszony przez Kanadyjską firmę jako reprezentant w dziedzinie LCA/EPD dla produkcji półprzewodników. Moja wiedza, doświadczenie i przeprowadzone badania przyczyniają się do przyspieszenia procesu analizy LCA i zmniejszenia jego kosztu. Konferencja organizowana jest przez SEMI.org, niezależną organizację promującą wiedze odnośnie przemysłu elektroniki i półprzewodników, wspierana przez takie uczelnie jak Stanford, MIT czy Berkley.
Obecność PŁ w takim gronie to kolejny krok w budowaniu międzynarodowej pozycji naszej uczelni i naszego regionu.